Se cuestiona la utilidad de los modelos de valor agregado para medir la eficiencia docente
PRINCETON, Nueva Jersey, 24 de septiembre de 2013 /PRNewswire-HISPANIC PR WIRE/ -- En medio del debate actual en torno a la mejor manera de medir la eficiencia docente, Educational Testing Service (ETS) anunció hoy la publicación de una presentación a cargo del profesor emérito de la Stanford University Edward Haertel en el marco de la 14ª conferencia en memoria de William H. Angoff, titulada Confiabilidad y validez de las inferencias acerca de los docentes con base en los resultados de los exámenes aplicados a estudiantes, donde aborda el uso de modelos de valor agregado (VAM) como parte fundamental en la determinación de la eficacia docente y analiza por qué se ha exagerado gravemente su utilidad.
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La ponencia del profesor Haertel se fundamentó en detallados análisis de las características VAM, incluidas la exploración de su validez, confiabilidad y capacidad de predicción, así como posibles efectos en diversas situaciones, y llegó a la conclusión de que no son idóneas para la tarea en cuestión.
"Definitivamente las puntuaciones VAM para docentes no deberían considerarse como factor sustancial con ponderación fija en las consecuentes decisiones sobre la planta docente", afirmó Haertel. "La información que aportan simplemente no tiene la calidad suficiente para constituir un importante componente en la medición de la eficiencia de un docente".
La presentación de Haertel y la ponencia publicadas hoy abundan en esta conclusión al plantear la manera en que los VAM, básicamente un método para evaluar docentes al comparar los resultados de sus estudiantes en exámenes en determinado año escolar con las calificaciones de algún año previo, no pueden aislar satisfactoriamente los diversos factores que influyen en la educación del estudiante al grado de hacer de los VAM una herramienta útil. Entre los factores capaces de causar discrepancia se encuentran las experiencias del estudiante fuera de la escuela, las aptitudes individuales, la influencia de sus pares, la formación previa o los entornos académicos por escuela.
"Con la riqueza de las investigaciones realizadas durante años sobre la validez y utilidad de los modelos de valor agregado en las evaluaciones clasificatorias de docentes, la conclusión del profesor Haertel en cuanto a la imposibilidad de que la manipulación estadística de los datos produzca una comparación precisa y sin sesgos de los docentes que laboran en condiciones extremadamente distintas tiene un sólido respaldo empírico", afirmó Richard Coley, director ejecutivo del Centro de Investigaciones sobre Capital Humano y Educación de ETS.
Según Haertel, pese a su limitada utilidad cuando son empleados como principal factor para medir la eficiencia docente, hay varios casos en que tanto estudiantes como docentes pueden beneficiarse de los VAM.
"Los VAM pueden desempeñar un modesto papel en los sistemas de evaluación docente, pero solo a modo de apéndices de otra información aplicada en un contexto donde docentes y directores tienen genuina autonomía de decisión en cuanto al uso y la interpretación de estimaciones de eficiencia docente en contextos locales", apuntó Haertel.
La presentación original de Haertel y su ponencia publicada también abordan diversas maneras de hacer VAM moderadamente más precisos o útiles, incluido el uso de factores múltiples, resultados de pruebas de varios años y la presentación de información clara y precisa sobre cualquier incertidumbre en cuanto a las causas de variaciones en el desempeño estudiantil.
Acerca de la serie de conferencias en memoria de William H. Angoff
La Serie de conferencias en memoria de William H. Angoff fue creada en 1994 para honrar la vida y obra de William Angoff. Durante más de 50 años, Angoff hizo importantes aportaciones a los ámbitos de las mediciones educativas y psicológicas. En consonancia con sus intereses, esta serie de conferencias está dedicada al debate relativamente no técnico de importantes problemáticas de interés público relacionadas con la medición educativa.
Acerca de ETS
En ETS, una iniciativa sin fines de lucro, promovemos la calidad y la equidad en la educación de las personas de todo el mundo mediante la creación de evaluaciones basadas en investigaciones del más alto rigor. ETS atiende las necesidades de personas, instituciones educativas y entidades gubernamentales al brindar soluciones personalizadas para la certificación de docentes, el aprendizaje del idioma inglés y la educación primaria, secundaria y terciaria, además de realizar investigación, análisis y estudios de políticas públicas en el ámbito educativo. Fundada en 1947, ETS desarrolla, aplica y califica más de 50 millones de exámenes cada año, entre ellos los exámenes TOEFL® y TOEIC®, GRE® y las evaluaciones The Praxis Series™, en más de 180 países y más de 9.000 ciudades del mundo. www.ets.org
FUENTE Educational Testing Service
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