Chroma gibt neueste Halbleiter-Testlösung heraus

TAOYUAN, Taiwan, 3. Mai 2017 /PRNewswire/ -- Chroma ATE Inc., ein weltweit führender Lieferant von Präzisionsprüf- und Messgeräten, automatisierten Testsystemen, intelligenten Fertigungssystemen sowie schlüsselfertigen Prüf- und Automationslösungen hat vor kurzem die neueste Halbleiter-Testlösung für den IoT-IC-Markt herausgegeben.

Die dieses Jahr neu entwickelte digitale I/O-Karte Chroma 33010 PXIe bietet basierend auf der PXI-Architektur automatische Prüffunktionen, die herausragend für die hohen Anforderungen bei PXI-Prüfungen geeignet sind. Um kleineren IC-Kanälen und den immer komplexeren Prüffunktionen insbesondere für ICs im Bereich IoT und Automobilelektronik gerecht zu werden, bietet die PXI-/PXIe-Architektur in Halbleiterprüfungen unübertroffene Vorteile in Bezug auf Vielseitigkeit und Flexibilität, wie unter anderen MCU-, MEMS-, RF-IC- und PMIC-Prüfungen. Sie kann auch zum Zweck einer Massenproduktion in das Prüfsystem Chroma 3380D (256 Kanäle) und Chroma 3380P (512 Kanäle) portiert werden, da große Ähnlichkeiten bei Software wie auch Hardware bestehen.

Der Dreitemperatur-SLT-Handler Chroma 3260 ist mit einer DTC-Funktion (Dynamic Temperature Control) ausgestattet wobei durch die Verwendung der führenden Nitro TEC-Technologie ein noch breiterer Temperaturleistungsbereich von -40 °C bis 125 °C und eine Regelgenauigkeit von +/- 1 °C ermöglicht wird. Er kann für Parallelprüfungen auf mehreren Modulplatinen verwendet werden und die integrierten Prüfsockel können verschiedene Pakettypen aufnehmen (QFP, TQFP, μBGA, PGA und CSP). Der Chroma 3260 (Dreitemp.) kann durch den Austausch von Wechsel-Kits schnell für verschiedene Prüflinge bzw. DUTs (DUT, engl. für Device Under Test) umgerüstet werden um Stillstandszeiten zu reduzieren und die Effizienz zu erhöhen. Zu den Anwendungen zählen IC-Komponenten für das IoV (Internet of Vehicle) und die Cloud-Computing-Branche.

Der Chroma 3111 Handler als Tischgerät mit einem IC-Prüfplatz ist für Systemfunktionsprüfungen insbesondere in der experimentellen Engineering-Phase entwickelt worden. Er verfügt über Prüffunktionen für elektrische Anschlüsse und ist für verpackte Wafer-Größen von 5 x 5 mm bis 45 x 45 mm geeignet. Der Chroma 3111 ist aufgrund seiner kleinen Größe (Stellplatz von 60 cm² ) die beste Wahl um bei Engineering-Prüfungen effektiv den Zeitaufwand und die Kosten zu reduzieren.

Die Halbleiter-Prüflösung von Chroma bietet auch eine Reihe von Softwarepakete für verschiedene Prüfanwendungen.

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